二手儀器價(jià)格二極管測(cè)試儀MOS-FET圖示儀

介子分析儀	SY-8219	品牌	Agilent/安捷倫
工作溫度	常溫	顯示方式	數(shù)字式
晶體管	CS-3100	類型	多參數(shù)測(cè)試儀

二手儀器價(jià)格二極管測(cè)試儀MOS-FET圖示儀

IWATSU B-H ANALYZER SY-8218 磁性材料特性測(cè)試分析儀二手，
IWATSU B-H ANALYZER SY-8218磁性材料分析、磁性材料特性測(cè)試分析儀SY-8219



用于超寬帶域的高頻材料分析

SY-8218: 10Hz ～ 10MHz

SY-8219: 10Hz ～ 1MHz



用途

軟磁性材料, 硅鋼片, 電感等

傳統(tǒng)汽車車載電子零部件

電器電子一般電器產(chǎn)品

電子零部件，組件

材料非金屬材料

適合于測(cè)試硅鋼片、鐵氧體、非晶體材料等軟磁性材料磁特性

日本IWATSU CS-3300半導(dǎo)體特性曲線圖示儀CS-3100，CS-3200，(符合 UL 規(guī)格)

非常適合測(cè)量不同類型半導(dǎo)體（包括IGBT、MOSFET、晶體管和二極管）的特性

zui大峰值電壓：3000 V（高電壓模式，適合所有型號(hào)）

zui大峰值電流：1000 A（CS-3300高電流模式）

所有型號(hào)均支持漏電流（LEAKAGE）測(cè)試模式（光標(biāo)分辨率：1 pA）

USB接口（保存屏幕圖像和設(shè)置條件）

B-H 分析儀 SY-8218 SY-8219 磁性材料分析儀，

精確測(cè)量軟磁性材料的交流磁特性，直至高頻
該裝置用于測(cè)量軟磁性材料的交流磁特性。
非常適合材料、核心、零件和設(shè)備制造商的研發(fā)、質(zhì)量保證和制造部門的新產(chǎn)品開發(fā)和產(chǎn)品檢驗(yàn)。 除了 BH/Pc 測(cè)量功能外，還可以測(cè)量 m/L/Q。

標(biāo)準(zhǔn)配置 (主機(jī)背面)
測(cè)試點(diǎn)數(shù)可調(diào)整.可根據(jù)需要的掃描速度及分辨率來(lái)設(shè)置. 根據(jù)不同用途可改變掃描方向. 同時(shí)具有客戶指定功能, 可以指定僅對(duì)某一段進(jìn)行掃描, 特別是在自動(dòng)測(cè)試時(shí)可以實(shí)現(xiàn)高速且高分辨率的測(cè)試(附圖)
限制掃描功能 (選件CS-800)
在一般的掃描測(cè)試中加入電流, 電壓的限制功能. 限制在被測(cè)模塊上印加的電流值, 電壓值以起到保護(hù)作用. 也可在達(dá)到目標(biāo)值時(shí)停止掃描(附圖)
Vth-hFE自動(dòng)檢測(cè)功能(選件CS-800)
可在條件設(shè)?后進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試, 避免了之前的繁雜操作
Constant 功能 (選件CS-800)
可印加規(guī)定電壓或規(guī)定電流. 與CS-810半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件配合使用時(shí), 可使用半導(dǎo)體曲線圖示儀進(jìn)行自動(dòng)疲勞測(cè)試
溫度特性測(cè)試 (選件CS-810)
通過CS-810半導(dǎo)體測(cè)試軟件對(duì)曲線圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板的自動(dòng)控制, 實(shí)現(xiàn)溫度特性評(píng)估試驗(yàn)的全自動(dòng)測(cè)試 (附圖)
CS-810是一個(gè)可安裝于電腦中的選件應(yīng)用軟件. 通過以太網(wǎng)控制圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板等設(shè)備, 經(jīng)簡(jiǎn)單的設(shè)置后就可將一直以來(lái)只能手動(dòng)測(cè)試的曲線圖示儀實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試, 大幅地提升工作效率
全自動(dòng)化測(cè)試:測(cè)試→記錄→判斷. 提高品管和品檢的工作效率 (附圖)
模塊或數(shù)個(gè)芯片, 器件自動(dòng)切換測(cè)試
可自動(dòng)控制加熱板, 全自動(dòng)進(jìn)行六合一模塊的溫度特性測(cè)量
測(cè)試結(jié)果窗口 (附圖)
波形比較功能: 可將產(chǎn)品開發(fā)時(shí)的不穩(wěn)定狀態(tài)或不良分析時(shí)測(cè)得的多個(gè)波形進(jìn)行同屏比較, 或通過波形比較來(lái)判斷是否合格 (附圖)
產(chǎn)品應(yīng)用
適用于高電壓或高電流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半導(dǎo)體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測(cè)試
電力電子器件 (如 SiC和GaN) 的電容測(cè)量 (選件CS-603A/CS-605A)
可實(shí)行晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)
靜態(tài)特性測(cè)試包括漏電流, 飽和電壓, VF和Vth (附圖)
傳輸特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和電路模塊的測(cè)試功能
器件測(cè)試
可以在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行多個(gè)器件的測(cè)試和記錄. 操作員只需根據(jù)器件替換和連接更改來(lái)輸入樣本名稱, 以重復(fù)相同的測(cè)試. 在既定條件下判斷 (通過/失敗) 將顯示每個(gè)測(cè)試與圖像和波形數(shù)據(jù)也將自動(dòng)存儲(chǔ)(附圖)
半導(dǎo)體溫度特性測(cè)試評(píng)估
CS-810控制加熱板. 盡管測(cè)試需要很長(zhǎng)的時(shí)間 (如溫度測(cè)試), 仍可自動(dòng)執(zhí)行 (附圖)
痠勞測(cè)試
在痠勞測(cè)試中可以包含各種各樣的參數(shù). CS-810 軟件支持長(zhǎng)時(shí)間可靠性測(cè)試. 通過曲線圖示CS-810監(jiān)察電壓和電流, 那些曲線的區(qū)別能被記錄下來(lái). 痠勞測(cè)試可以實(shí)現(xiàn)多種參數(shù)的自動(dòng)測(cè)量. 偏置會(huì)停止超越電流或電壓的限制值并以此設(shè)定為下限和上限的極限值. CS-810 軟件測(cè)量 Ic 或 Vce (區(qū)間: 10s 至 2h) 和保持一定的電壓或電流 (10s 至 1,000h) (附圖)
與探針臺(tái)共用時(shí), 可實(shí)現(xiàn)晶圓測(cè)試 (附圖)
標(biāo)準(zhǔn)配件
CS-301: CS-3100標(biāo)配測(cè)試臺(tái)S
CS-302: CS-3200和CS-3300標(biāo)配測(cè)試臺(tái)M
CS-303: CS-5100, CS-5200和CS-5300標(biāo)配測(cè)試臺(tái)M
CS-304: CS-5400標(biāo)配測(cè)試臺(tái)M
測(cè)試臺(tái)M專用快裝面板: CS系列標(biāo)配快裝面板 (除CS-3100外)
CS-500: CS-3100, CS-3200, CS-3300, CS-5100, CS-5200, CS-5300, CS-5400標(biāo)配測(cè)試端口轉(zhuǎn)接夾具
CS-005: CS系列標(biāo)配標(biāo)準(zhǔn)線套裝(除CS-3100外)
CS-006: CS-5400標(biāo)配20cm高電流電纜 (2條)
CS-007: CS-10400, CS-10800, CS-12800, CS-15800標(biāo)配30cm 高電流電纜 (2條)
LAN接口
USB接口
操作手冊(cè)