淺談電波暗室影響性能指標的因素

　? 電波暗室主要用于模擬開放場，是用于測量輻射無線騷擾（EMI）和輻射靈敏度（EMS）的密封屏蔽室。無班房間的大小和射頻吸收材料的挑選主要由測試設(shè)備（EUT）的外行大小和測試要求（1m方法、3m方法或10m方法）決定。

影響電波暗室性能指標的主要因素包括暗室參數(shù)、天線測量偏差。 電波暗室的電氣系統(tǒng)性能分析指標主要由靜態(tài)工作區(qū)域的特色來表征。靜態(tài)區(qū)域的特性由靜態(tài)區(qū)域的大小、靜態(tài)區(qū)域的反射水平、交叉化、場均勻性、路徑損耗、固有雷達截面和工作頻率范圍來解釋。

影響暗室性能指標的因素多種多樣、復(fù)雜。利用光線輻射法和能量物理定律模擬暗室性能時，需要進行考慮通過無線電波的傳輸解耦、解耦、標準以及天線的圖案主要因素、吸收學(xué)習(xí)材料技術(shù)本身的垂直入射性能和傾斜入射性能、多重反射等影響。

1）交叉化度：暗室結(jié)構(gòu)的不嚴格要求對稱、吸收學(xué)習(xí)材料對各種社會化波吸收的不一致、暗室測試管理系統(tǒng)等造成暗室傳播發(fā)展過程當(dāng)中信息傳播國家的現(xiàn)象。當(dāng)測試天線是正交的，與傳輸天線的屏幕平行時，如果測試場的強度比小于-25dB，則認為交叉化符合要求。

2）多路徑數(shù)據(jù)損失：路徑進行損失分布不均勻時，電磁波的屏幕會旋轉(zhuǎn)，如果我們隨后通過旋轉(zhuǎn)待測試波方向的天線，接收控制信號的起伏不高于-0.25 dB，則可以挑選忽略多路徑發(fā)展損失。

3)場均勻性: 將待測天線在暗室靜態(tài)區(qū)沿軸線移動，波動不高于 -2分貝。在靜態(tài)區(qū)域的截面上，水平和上下移動需要接收信號起伏的測量目標天線，范圍在-0.25 dB以下。

2、天線測量錯誤

1）由于有限的測試距離而造成的錯誤

要測量的平面天線是沿主光束的軸接收的波。測試距離大小后，被測試天線其他部分接受的字段不可相同，因此有平方根定律相位差。如果要測試的天線位于源天線遠區(qū)的邊界2D? 2/處，則相應(yīng)的口徑邊緣和相位中心的字段中有22.5度的相位差。如果測試距離增加一倍，相位差就會減少一半。

對于學(xué)生測量電波暗室發(fā)展中間旁瓣電平的天線，距離2D2/通常是沒有足夠的。測量的增益約為0.06dB。隨著測試距離的縮短，測量偏差會迅速增加，側(cè)襟翼會合并到主梁和肩部桌面，甚至可能成為一個整體.通常，0.25 dB的圓錐銷會將測量的增益減少到約0.1 dB，旁瓣附近會出現(xiàn)一些偏差。