電子元器件金山防水可靠性試驗(yàn)費(fèi)用
價(jià)格面議2023-09-02 11:57:18
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蘇州中啟檢測(cè)有限公司
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可靠性
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電子元器件防水可靠性,可靠性試驗(yàn)費(fèi)用,金山可靠性,可靠性方案
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張科偉
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電子元器件金山防水可靠性試驗(yàn)費(fèi)用
以下是一些常見的鹽霧測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和分類：
ASTM B117：美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）制定的標(biāo)準(zhǔn)，是最廣泛使用的鹽霧測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)之一。它將產(chǎn)品暴露在5%濃度（PH值為6.5-7.2）的氯化鈉溶液中，通過連續(xù)噴射鹽水產(chǎn)生的鹽霧環(huán)境進(jìn)行測(cè)試。
ISO 9227：國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）制定的標(biāo)準(zhǔn)，也被廣泛采用。ISO 9227定義了多個(gè)不同類型的鹽霧測(cè)試方法，包括NSS（中性鹽霧試驗(yàn)）、AASS（醋酸鹽霧試驗(yàn)）和CASS（銅加速醋酸鹽霧試驗(yàn)）等。
MIL-STD-810G：美國(guó)軍事標(biāo)準(zhǔn)，旨在評(píng)估軍事設(shè)備在各種惡劣條件下的可靠性。其中包括了對(duì)產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境下進(jìn)行耐蝕性測(cè)試的要求。
光照與輻射測(cè)試：這類測(cè)試主要用于評(píng)估產(chǎn)品在光照和輻射環(huán)境下的穩(wěn)定性和耐久性。例如，太陽(yáng)輻射模擬器可以模擬日光或紫外線照射，以檢測(cè)產(chǎn)品是否會(huì)因長(zhǎng)時(shí)間暴露于強(qiáng)光下而受到損害。
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